一：

集成電路的測(cè)試技術(shù)百科

問(wèn)題1：檢測(cè)集成電路是否損壞可采用哪些方法
集成電路的測(cè)試答：現(xiàn)在的電子產(chǎn)品往往由于一塊集成電路損壞，導(dǎo)致一部分或幾個(gè)部分不能常工作，影響設(shè)備的正常使用。那么如何檢測(cè)集成電路的好壞呢?通常一臺(tái)設(shè)備里面有許多個(gè)集成電路，當(dāng)拿到一部有故障的集成電路的設(shè)備時(shí)，首先要根據(jù)故障現(xiàn)象。

問(wèn)題2：集成電路在可靠性方面會(huì)做哪些測(cè)試?
答：你可以去看看美軍標(biāo)883的標(biāo)準(zhǔn)，可靠性測(cè)試大概分三類(lèi)測(cè)試：電氣性能、環(huán)境測(cè)試、機(jī)械性測(cè)試。電氣性能包括數(shù)字電路的測(cè)試和線性測(cè)試，環(huán)境包括高低溫、濕度、熱沖擊、老化等等，機(jī)械性測(cè)試包括拉力檢測(cè)、破壞性試驗(yàn)等等。883對(duì)測(cè)試。

問(wèn)題3：如何用萬(wàn)用表測(cè)量數(shù)字集成電路的好壞
答：一、檢測(cè)原理和一般方法1檢測(cè)非在路集成電路本身好壞的準(zhǔn)確方法非在路集成電路是指與實(shí)際電路完全脫開(kāi)的集成電路。按照廠家給定的測(cè)試電路、測(cè)試條件，逐項(xiàng)進(jìn)行測(cè)試，在大多數(shù)情況下既不現(xiàn)實(shí)，也往往是不必要的。在家電修。

問(wèn)題4：八腳集成電路怎么簡(jiǎn)便測(cè)好壞
答：8腳的集成電路有很多種型號(hào)，不同的型號(hào)有不同的測(cè)試方法，不可一概而論，如果說(shuō)有一種簡(jiǎn)單的測(cè)試方法，那只有一種方法，如果用萬(wàn)用表測(cè)試8個(gè)腳中的任意兩個(gè)腳之間的電阻都是零，那這個(gè)集成電路肯定已經(jīng)損壞了。

問(wèn)題5：集成電路的檢測(cè)都會(huì)使用到哪些檢測(cè)設(shè)備?
答：集成電路的檢測(cè)（ICtest）分為wafertest（晶圓檢測(cè)）、chiptest（芯片檢測(cè)）和packagetest（封裝檢測(cè)）。wafertest是在晶圓從晶圓廠生產(chǎn)出來(lái)后，切割減薄之前的檢測(cè)。其設(shè)備通常是測(cè)試廠商自行開(kāi)發(fā)制造或定制的，一般是將。

問(wèn)題6：集成芯片怎么測(cè)量
集成電路的測(cè)試答：早期的CD4000系列和74系列以及相同功能的后續(xù)型號(hào)是可以用通用的數(shù)字集成電路測(cè)試儀測(cè)的。通用性較強(qiáng)的運(yùn)算放大器如741和324一類(lèi)還可以用線性集成電路測(cè)試儀測(cè)。而大多數(shù)集成電路是沒(méi)有通用檢測(cè)設(shè)備可以使用的，要想測(cè)量就得靠。

問(wèn)題7：半導(dǎo)體集成電路測(cè)試有什么注意事項(xiàng)
集成電路的測(cè)試答：1管腳定義，不要將管腳接錯(cuò)。2確保外圍應(yīng)用電路連接正確，元器件焊接正確，無(wú)虛斷虛焊現(xiàn)象。3測(cè)試中工作電壓、電流不能超過(guò)工藝及電路設(shè)計(jì)值。還有一些零碎的細(xì)節(jié)需要自己注意，根據(jù)不同的芯片來(lái)確定。

問(wèn)題8：IR2155集成電路如何用萬(wàn)用表測(cè)試性能
答：來(lái)初略的判斷IC是否損壞；其次，用萬(wàn)用表測(cè)試集成電路，一般只能是小型IC，如厚膜、DIP、PCDIP、SOP等封裝的，如果是大規(guī)模的數(shù)字集成電路，如PGA、BGA等封裝的，用萬(wàn)用表是勝任不了的；再次，如果是對(duì)靜電敏感的IC，最。

問(wèn)題9：項(xiàng)目ic是什么意思
集成電路的測(cè)試答：如果存在無(wú)缺陷的產(chǎn)品的話，集成電路的測(cè)試也就不需要了。由于實(shí)際的制作過(guò)程所帶來(lái)的以及材料本身或多或少都有的缺陷，因而無(wú)論怎樣完美的產(chǎn)品都會(huì)產(chǎn)生不良的個(gè)體，因而測(cè)試也就成為ic項(xiàng)目中不可缺少的工程之一。就模擬電路的。

問(wèn)題10：集成電路測(cè)試分幾個(gè)階段
答：這個(gè)問(wèn)題問(wèn)的不清不楚的，怎么回答你呢？你是說(shuō)測(cè)試流程分幾個(gè)階段嘛？一般是接觸測(cè)試（OS測(cè)試），直流項(xiàng)測(cè)試，交流項(xiàng)測(cè)試，沒(méi)了。。

二：

集成電路的測(cè)試技術(shù)資料

問(wèn)題1：數(shù)字集成電路測(cè)試中的直流參數(shù)測(cè)試項(xiàng)目包括哪些
答：5輸出短路電路IOS測(cè)試（outputshortcircuitcurrenttest)輸出短路電流（IOS），顧名思義，就是輸出端口處于短路狀態(tài)時(shí)的電流。6輸出高阻電流（IOZH/IOZL）IOZL指的是一個(gè)低電平施加在一個(gè)處于高阻態(tài)的輸出管腳上。

問(wèn)題2：測(cè)量集成電路引腳直電壓時(shí)怎么使用萬(wàn)用表呢?
答：1檢測(cè)非在路集成電路本身好壞的準(zhǔn)確方法：非在路集成電路是指與實(shí)際電路完全脫開(kāi)的集成電路。按照廠家給定的測(cè)試電路、測(cè)試條件，逐項(xiàng)進(jìn)行測(cè)試，在大多數(shù)情況下既不現(xiàn)實(shí)，也往往是不必要的。在家電修理或一般性電子制作過(guò)程中。

問(wèn)題3：集成電路測(cè)試儀的發(fā)展過(guò)程
答：集成電路測(cè)試儀的發(fā)展過(guò)程可以粗略地分為四個(gè)時(shí)代。第一代始于1965年，測(cè)試對(duì)象是小規(guī)模集成電路，可測(cè)管腳數(shù)達(dá)16只。用導(dǎo)線連接、撥動(dòng)開(kāi)關(guān)、按鈕插件、數(shù)字開(kāi)關(guān)或二極管矩陣等方法，編制自動(dòng)測(cè)試序列，僅僅測(cè)量IC外部管腳的。

問(wèn)題4：國(guó)內(nèi)外集成電路測(cè)試行業(yè)現(xiàn)狀調(diào)查
答：國(guó)內(nèi)外集成電路測(cè)試行業(yè)現(xiàn)狀調(diào)查根據(jù)美國(guó)半導(dǎo)體工業(yè)協(xié)會(huì)（）的預(yù)測(cè)，年全球模擬器件市場(chǎng)為億美元，其中亞太地區(qū)對(duì)模擬與混合信號(hào)集成電路的需求量為億美元，并會(huì)以％的年復(fù)合增長(zhǎng)率遞增，預(yù)計(jì)年該區(qū)域市場(chǎng)將達(dá)到億美元而成為全球。

問(wèn)題5：集成電路設(shè)計(jì)中的fib測(cè)試是什么意思
答：FIB電路修改則是利用FIB對(duì)芯片電路進(jìn)行物理修改，可使芯片設(shè)計(jì)者對(duì)芯片問(wèn)題處作針對(duì)性的測(cè)試，以便更快更準(zhǔn)確的驗(yàn)證設(shè)計(jì)方案。若芯片部份區(qū)域有問(wèn)題，可通過(guò)FIB對(duì)此區(qū)域隔離或改正此區(qū)域功能，以便找到問(wèn)題的癥結(jié)。FIB還能在。

問(wèn)題6：集成電路測(cè)試員的職業(yè)簡(jiǎn)介
集成電路的測(cè)試答：1了解常用集成電路測(cè)試設(shè)備、工具和材料；2具有集成電路測(cè)試的專(zhuān)業(yè)基礎(chǔ)知識(shí)；3能讀懂簡(jiǎn)單的局部的測(cè)試子程序；4能解讀中大規(guī)模數(shù)字電路和數(shù)模混合電路的測(cè)試方案；5有中高檔集成電路自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的維護(hù)保養(yǎng)診斷及能力。

問(wèn)題7：集成電路測(cè)試員的職業(yè)前景
集成電路的測(cè)試答：2005年僅上海就急需15萬(wàn)名芯片制造、封裝和測(cè)試人員。“集成電路測(cè)試”屬于發(fā)展中的技術(shù)復(fù)合型和經(jīng)驗(yàn)積累型職業(yè)，具有高科技的特征。集成電路測(cè)試人員需要運(yùn)用各種測(cè)試設(shè)備，完成中、大規(guī)模數(shù)字電路的測(cè)試、模擬電路的測(cè)試。

問(wèn)題8：雙極工藝集成電路能不能測(cè)試iddq
答：5輸出短路電路IOS測(cè)試（outputshortcircuitcurrenttest)輸出短路電流（IOS），顧名思義，就是輸出端口處于短路狀態(tài)時(shí)的電流。6輸出高阻電流（IOZH/IOZL）IOZL指的是一個(gè)低電平施加在一個(gè)處于高阻態(tài)的輸出管腳上。

問(wèn)題9：集成電路測(cè)試儀的主要功能,麻煩高手來(lái)指點(diǎn)一下
答：集成電路測(cè)試儀的主要功能是測(cè)試集成電路的電參數(shù)，有的是測(cè)試數(shù)字集成電路的，可能包括真值表的驗(yàn)證；有的是測(cè)試模擬集成電路的。通常對(duì)應(yīng)不同的品種，有不同的參數(shù)要求，因此有不同的測(cè)試程序，這用計(jì)算機(jī)來(lái)完成是比較好的。

問(wèn)題10：集成電路運(yùn)放芯片如何測(cè)試性能?
集成電路的測(cè)試答：工業(yè)量產(chǎn)測(cè)試嗎？你具體使用的測(cè)試機(jī)是？每個(gè)測(cè)試機(jī)的供應(yīng)商會(huì)提供給你他們制作的運(yùn)放測(cè)試板的，因?yàn)檫\(yùn)放芯片有國(guó)標(biāo)即具體規(guī)定了測(cè)試哪些項(xiàng)目比如你提到的這兩個(gè)，以及這些項(xiàng)目的具體性能要求，所以外圍電路基本也是固定的。原理。

三 ：

集成電路的測(cè)試名企推薦

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